Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ là công việc như thế nào? Việc tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ phải tuân thủ những nguyên tắc nào?

Nội dung chính

• Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ là công việc như thế nào?
• Việc tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ phải tuân thủ những nguyên tắc nào?
• Để tiến hành thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ cần phải chuẩn bị bao nhiêu mẫu thử nghiệm?

Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ là công việc như thế nào?

Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ được quy định tại tiểu mục 3.1 Mục 3 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6854:2001 (ISO 8690 : 1988) về An toàn bức xạ - Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ - Phương pháp thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ như sau:

Định nghĩa

Các định nghĩa sau được sử dụng trong tiêu chuẩn này:

3.1. Nhiễm xạ (contamination):

Sự có mặt không mong muốn của hạt nhân phóng xạ trên bề mặt hoặc ngấm không sâu vào bề mặt.

3.2. Tẩy xạ (decontamination):

Việc loại đi toàn bộ hoặc một phần sự nhiễm xạ mà không làm thay đổi các tính chất của bề mặt.

3.3. Tốc độ đếm xung riêng (specific pulse rate):

Tốc độ đếm xung gây ra bởi 1 ml dung dịch nhiễm xạ. trong thiết bị đo trong điều kiện hình học đã cho

Tốc độ đếm này được tính bằng xung/min/ml. Các tốc độ đếm xung được thu được do các chu kỳ đếm được khi áp dụng hiệu chỉnh thời gian chết và phông.

3.4. Tốc độ đếm xung tồn dư (residual pulse rate):

Tốc độ đếm xung gây ra bởi các hạt nhân phóng xạ tồn dư trên bề mặt đã thử nghiệm của mẫu sau khi được tẩy xạ trong thiết bị đo trong điều kiện hình học đã cho.

Tốc độ đếm này được tính bằng số xung/min.

...

Bề mặt bị nhiễm xạ là sự có mặt không mong muốn của hạt nhân phóng xạ trên bề mặt hoặc ngấm không sâu vào bề mặt.

Như vậy, tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ được hiểu là việc loại đi toàn bộ hoặc một phần sự nhiễm xạ mà không làm thay đổi các tính chất của bề mặt.

Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ là công việc như thế nào? (Hình từ Internet)

Việc tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ phải tuân thủ những nguyên tắc nào?

Nguyên tắc tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ được quy định tại Mục 4 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6854:2001 (ISO 8690 : 1988) về An toàn bức xạ - Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ - Phương pháp thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ như sau:

Nguyên tắc

Chuẩn bị một loạt các dung dịch gây nhiễm xạ riêng biệt chứa 60Co và 137Cs (nồng độ chất mang: 10-5 mol; độ pH: 4). Sử dụng một đầu dò bức xạ rộng bản đo từng mẫu, mỗi mẫu 100 µl dung dịch và sử dụng kết quả đo để tính toán tốc độ đếm xung riêng của các dung dịch gây nhiễm xạ.

Làm nhiễm xạ một diện tích xác định trên bề mặt mẫu vật được thử nghiệm bằng các dung dịch gây nhiễm xạ và sau đó tẩy xạ bằng nước đã loại khoáng. Xác định tốc độ đếm xung tồn dư được thực hiện bằng việc đo các mẫu bị nhiễm xạ.

Tính toán tốc độ đếm xung tồn dư trung bình tiêu chuẩn hóa đối với mỗi hạt nhân phóng xạ. Sử dụng giá trị trung bình số học của các trị số tương ứng với 60Co và 137Cs (tốc độ đếm xung tồn dư cuối cùng) để đánh giá tính dễ tẩy xạ nhờ sự phân hạng được lập ra bằng thực nghiệm.

Như vậy, theo quy định, việc tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ phải tuân thủ những nguyên tắc sau đây:

(1) Chuẩn bị một loạt các dung dịch gây nhiễm xạ riêng biệt chứa 60Co và 137Cs (nồng độ chất mang: 10-5 mol; độ pH: 4).

Sử dụng một đầu dò bức xạ rộng bản đo từng mẫu, mỗi mẫu 100 µl dung dịch và sử dụng kết quả đo để tính toán tốc độ đếm xung riêng của các dung dịch gây nhiễm xạ.

(2) Làm nhiễm xạ một diện tích xác định trên bề mặt mẫu vật được thử nghiệm bằng các dung dịch gây nhiễm xạ và sau đó tẩy xạ bằng nước đã loại khoáng.

Xác định tốc độ đếm xung tồn dư được thực hiện bằng việc đo các mẫu bị nhiễm xạ.

(3) Tính toán tốc độ đếm xung tồn dư trung bình tiêu chuẩn hóa đối với mỗi hạt nhân phóng xạ.

Sử dụng giá trị trung bình số học của các trị số tương ứng với 60Co và 137Cs (tốc độ đếm xung tồn dư cuối cùng) để đánh giá tính dễ tẩy xạ nhờ sự phân hạng được lập ra bằng thực nghiệm.

Để tiến hành thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ cần phải chuẩn bị bao nhiêu mẫu thử nghiệm?

Việc chuẩn bị mẫu thử nghiệm được quy định tại tiểu mục 7.2 Mục 7 Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6854:2001 (ISO 8690 : 1988) về An toàn bức xạ - Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ - Phương pháp thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ như sau:

Mẫu thử

...

7.2. Số lượng và kích thước

Để tiến hành thử nghiệm, cần phải chuẩn bị 15 mẫu thử giống nhau và trong số đó ít nhất có hai nhóm gồm 5 mẫu phải được thử nghiệm trong hai phép thử đồng thời.

Chú thích - Những mẫu thử còn lại được dùng cho thử nghiệm sơ bộ theo 7.1 và dùng làm mẫu đối chứng sau thử nghiệm.

Các mẫu thử phải có kích thước mm x mm. Độ dày của mẫu thử phải nằm trong khoảng từ 1 mm đến 10 mm. Một góc (tốt nhất là góc vuông) được đánh dấu bằng một chữ thập gồm hai vết cạo mảnh ở phía sau của mỗi mẫu thử là góc đối chứng.

Các chiều khác nhau của mẫu thử và điều kiện khác cho việc chuẩn bị cần được ghi rõ trong báo cáo thử nghiệm.

Chú thích - Các mẫu thử có kích thước không lớn hơn 51 mm x 51 mm x 3,5 mm có thể được cất giữ và vận chuyển bằng congteno bảo quản trượt; nhằm tránh sự tiếp xúc giữa các bề mặt thử nghiệm.

7.3. Điều hòa nhiệt độ và làm sạch

Các mẫu thử phải được giữ trong côngtenơ mở tại phòng thử nghiệm có không khí sạch và không ăn mòn ở 20 °C ± 5 °C không dưới 14 ngày. Yêu cầu này không áp dụng cho những mẫu thử mà bề mặt thử nghiệm làm bằng gốm hoặc thủy tinh.

...

Như vậy, theo quy định, để tiến hành thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ cần phải chuẩn bị 15 mẫu thử nghiệm giống nhau và trong số đó ít nhất có hai nhóm gồm 5 mẫu phải được thử nghiệm trong hai phép thử đồng thời, những mẫu thử còn lại được dùng cho thử nghiệm sơ bộ.