Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 về mức loại trừ công suất thấp như thế nào?

Nội dung chính

• Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 về mức loại trừ công suất thấp như thế nào?
• Phơi nhiễm trong nhiều nguồn phát được quy định ra sao?
• Quy định sử dụng độ không đảm bảo đo trong đánh giá sự phù hợp với các giới hạn như thế nào?

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 về mức loại trừ công suất thấp như thế nào?

Tại tiểu mục 4.2 Mục 4 TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 quy định về mức loại trừ công suất thấp Pmax như sau:

Thiết bị điện và điện tử công suất thấp được coi là phù hợp với các điều khoản của tiêu chuẩn này nếu nó có thể được chứng minh bằng cách sử dụng các tuyến B, C và D rằng công suất anten sẵn có và/hoặc công suất bức xạ tổng trung bình nhỏ hơn hoặc bằng với mức loại trừ công suất thấp áp dụng được Pmax.

Phụ lục A đưa ra các giá trị ví dụ đối với Pmax được suy ra từ các giới hạn phơi nhiễm sẵn có được liệt kê trong thư mục tài liệu tham khảo, ví dụ như các hướng dẫn ICNIRP [1], IEEE Std C95.1-1999 [2] và IEEE Std C.95.1-2005 [3].

Đối với các thiết bị không dây được cho hoạt động gần với cơ thể người với công suất anten khả dụng và/hoặc các công suất bức xạ tổng trung bình cao hơn giá trị Pmax được cho trong Phụ lục A thì cũng có thể sử dụng các giá trị Pmax thay thế (gọi là Pmax’), được mô tả trong Phụ lục B.

CHÚ THÍCH: Để có thể sử dụng các giá trị Pmax thay thế (Pmax’), thiết bị cần đánh giá phải phù hợp với phạm vi có thể áp dụng được của Pmax’ như được xác định trong Phụ lục B. Nếu Pmax’ như xác định trong Phụ lục B không áp dụng được cho một sản phẩm cụ thể thì nên sử dụng các giá trị Pmax mẫu cho các giới hạn phơi nhiễm tương ứng được mô tả trong Phụ lục A.

Đối với thiết bị công suất thấp sử dụng các tín hiệu xung, có thể sử dụng các giới hạn khác bổ sung cho các giới hạn được xem xét trong Phụ lục A và Phụ lục B. Cả hướng dẫn ICNIRP [1] và các tiêu chuẩn IEEE [2], [3] đều có các giới hạn cụ thể về phơi nhiễm trong trường xung và các yêu cầu của các tiêu chuẩn đó về phơi nhiễm với các xung phải được đáp ứng. Phụ lục C có thảo luận thêm về vấn đề này.

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 về mức loại trừ công suất thấp như thế nào? (Hình ảnh Internet)

Phơi nhiễm trong nhiều nguồn phát được quy định ra sao?

Tại tiểu mục 4.3 Mục 4 TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 quy định về phơi nhiễm trong nhiều nguồn phát như sau:

Nếu một thiết bị cần thử nghiệm (EUT) được trang bị nhiều bộ bức xạ có chủ ý, thì việc đánh giá sự phù hợp tổng thể có thể yêu cầu nhiều hơn là chỉ đánh giá sự phù hợp của từng bộ bức xạ một cách riêng biệt. Tác động của nhiều bộ bức xạ có chủ ý cần được xem xét trong quá trình đánh giá sự phù hợp.

IEC 62630 [8] cung cấp hướng dẫn chung về cách đánh giá EMF được tạo ra bởi nhiều bộ bức xạ có chủ ý.

Quy định sử dụng độ không đảm bảo đo trong đánh giá sự phù hợp với các giới hạn như thế nào?

Tại Mục 6 TCVN 13730:2023 IEC 62479:2010 quy định về sử dụng độ không đảm bảo đo trong đánh giá sự phù hợp với các giới hạn như như sau:

Thiết bị được coi là đáp ứng các yêu cầu của tiêu chuẩn này nếu kết quả đánh giá nhỏ hơn hoặc bằng giới hạn và nếu độ không đảm bảo được ước lượng của kết quả đánh giá nhỏ hơn độ không đảm bảo đo lớn nhất được quy định cho (các) phương pháp đánh giá được áp dụng. Điều này có nghĩa rằng đối với mỗi tuyến đánh giá được thể hiện trên Hình 1, các ước lượng về độ không đảm bảo riêng rẽ phải được thực hiện đối với tuyến được sử dụng ngay khi có thể. Độ không đảm bảo của phương pháp đánh giá phải được xác định bởi tính toán độ không đảm bảo mở rộng bằng cách sử dụng khoảng tin cậy là 95 % (hệ số phủ k = 1,96).

CHÚ THÍCH 1: Độ không đảm bảo của các phương pháp đánh giá EMF thường được tính bằng %. Nếu độ không đảm bảo được thể hiện bằng đơn vị không tuyến tính, ví dụ: dB, thì trước tiên giá trị này phải được chuyển đổi thành phần trăm (%).

CHÚ THÍCH 2: Hướng dẫn về ước lượng độ không đảm bảo có trong TCVN 9595-3:2013 (ISO/IEC Guide 98-3:2008), Hướng dẫn biểu thị độ không đảm bảo trong phép đo, thường được gọi là GUM [10].

Nhìn chung, độ không đảm bảo tương đối (mở rộng) là 30 % được sử dụng cho một số phương pháp đánh giá EMF. Do đó, mức độ không đảm bảo tương đối này được sử dụng làm giá trị tối đa mặc định trong tiêu chuẩn chung này. Các giá trị độ không đảm bảo được quy định cho từng phương pháp đánh giá EMF là độ không đảm bảo tối đa cho phép. Nếu không quy định giá trị độ không đảm bảo thì phải sử dụng giá trị mặc định là 30 %.

Nếu độ không đảm bảo tương đối là nhỏ hơn 30 % thì giá trị đo được Lm phải được so sánh một cách trực tiếp với giới hạn áp dụng Llim để đánh giá sự phù hợp.

Nếu độ không đảm bảo được tính toán là lớn hơn 30 % thì độ không đảm bảo được tính toán phải được đưa vào đánh giá sự phù hợp với giới hạn như sau (nghĩa là bằng cách thêm giá trị đã tính toán này vào kết quả đo được hoặc tính toán được).

Công thức (1) phải được sử dụng để xác định xem liệu giá trị đo được Lm có phù hợp với giới hạn “được giảm” nếu độ không đảm bảo đo thực tế của phương pháp đánh giá có thể áp dụng được là 30 % hoặc lớn hơn. Nếu độ không đảm bảo trong đánh giá được tính toán là lớn hơn giá trị độ không đảm bảo tối đa cho phép quy định đối với bất kỳ phương pháp cụ thể nào và nếu nó cũng lớn hơn giá trị độ không đảm bảo mặc định lớn nhất là 30 %, thì một giá trị bất lợi phải được thêm vào kết quả đánh giá trước khi so sánh với giới hạn.

Ngược lại, cũng có thể giảm giới hạn áp dụng Llim cùng một giá trị bất lợi, và so sánh giá trị Lm đo được thực tế với giới hạn đã giảm. Vế phải của Công thức (1) cho thấy giới hạn Llim được giảm xuống như thế nào trong trường hợp độ không đảm bảo được tính toán là lớn hơn 30 %.

trong đó

Lm là giá trị đo được;

Llim là giới hạn phơi nhiễm;

U(Lm) là giá trị tuyệt đối của độ không đảm bảo mở rộng,

VÍ DỤ Giả định độ không đảm bảo tương đối của một phương pháp đánh giá EMF nào đó là 55 %. Thì

Sử dụng Công thức (1), tiêu chí chấp nhận đối với giá trị đo được là

Giá trị bất lợi của độ không đảm bảo (lượng giảm của giới hạn) là:

Upen = Llim - 0,8Llim = 0,2 Llim